維度光電光斑分析儀有哪些型號

來源: 發布時間:2025-04-21

BeamHere 分析軟件作為組件,支持多設備協同工作:掃描數據自動校準、光斑模式智能識別、M2 因子三維重建。通過機器學習算法,可自動補償環境光干擾與溫度漂移。通過可視化界面,用戶可實時查看光斑能量分布云圖、發散角變化曲線及束腰位置動態圖,支持多參數聯動分析。軟件內置模板庫,一鍵生成包含 20 + 參數的標準化報告,支持 PDF/Excel/XML 多格式導出,并支持數據追溯與批量處理,歷史數據可自動關聯測試條件,縮短測試周期。企業版支持用戶權限分級管理與數據加密。發散較大,怎么測量光束質量?維度光電光斑分析儀有哪些型號

光斑分析儀

相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 光斑尺寸 ≤55μm → 狹縫式(2.5μm 精度) ≥55μm → 相機式(10mm 量程) 激光功率 ≥1W → 狹縫式(直接測量近 10W) ≤1W → 相機式(6 片衰減片適配) 光斑形態 高斯 / 規則 → 兩者均可(狹縫式更經濟) 非高斯 / 高階橫模 → 相機式(保留細節) 脈沖特性 需單脈沖分析 → 相機式(觸發同步) 連續或匹配重頻 → 狹縫式(高精度掃描) 推薦組合: 場景:相機式 + 狹縫式組合,覆蓋全尺寸與復雜形態 工業產線:狹縫式(高功率)+ 相機式(動態監測) 醫療設備:相機式(脈沖激光)+M2 模塊(光束質量評估) 維度光電 BeamHere 系列提供模塊化解決方案,支持快速切換檢測模式,幫助用戶降**設備購置成本與檢測周期。激光光斑分析儀怎么收費M2 因子測量模塊怎么選?維度光電 M2 因子測量模塊,搭配光斑分析儀,測量激光光束質量。

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Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列以國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術為,覆蓋 190-2700nm 全光譜,可測 2.5μm 至 10mm 光束直徑。其 0.1μm 超高分辨率突破傳統設備極限,捕捉亞微米級光斑細節。 技術優勢: 雙模式智能適配:軟件自主切換刀口 / 狹縫模式,解決 < 20μm 極小光斑與 10mm 大光斑的測量難題 高功率安全檢測:創新狹縫物理衰減機制,無需外置衰減片即可直接測量近 10W 激光 超分辨率成像:基于狹縫掃描原理,完整還原光斑能量分布,避免特征丟失 設備內置正交狹縫轉動輪,通過旋轉掃描同步采集 XY 軸數據,經算法處理輸出 20 + 光束參數。緊湊模塊化設計適配工業與實驗室場景,通過 CE/FCC 認證,在 - 40℃至 85℃環境穩定工作,應用于激光加工、醫療設備及科研領域,助力客戶提升檢測精度與效率。

維度光電深刻認識到高功率光束檢測在激光應用中的性和難度。大多數光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會飽和,而常規激光器功率普遍較高,這使得大功率光束檢測成為激光應用的難點。為解決這一問題,維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 高功率激光,保障了測試過程的安全與高效。為應對更高功率,又推出單次和雙次取樣配件,可疊加使用形成多次取樣系統。搭配合適衰減片,可測功率超 1000W。單次取樣配件 DL - LBA - 1,取樣率 4% - 5%,采用 45° 傾斜設計和 C 口安裝,有鎖緊環可固定在任意方向測量不同角度入射激光;雙次取樣配件 DL - LBA - 2,取樣率 0.16% - 0.25%,內部兩片取樣透鏡緊湊安裝,能應對 400W 功率光束,多面體結構便于工業或實驗環境安裝。組合安裝配件可獲得高衰減程度,實現更高功率激光測量。同時,其緊湊結構設計的取樣光程滿足聚焦光斑測量,單次 68mm,雙次 53mm,為激光生產提供了強大的檢測支持。多光斑光束質量測量系統。

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維度光電-BeamHere 光斑分析儀憑借高精度光束參數測量能力,為激光技術在各領域的創新應用提供支持。在工業制造中,其亞微米級光斑校準功能幫助優化激光切割、焊接與打標工藝,確保光束能量分布均勻性,提升加工一致性。醫療領域中,BeamHere 用于眼科準分子激光設備的光束形態監測,通過實時分析能量分布與光斑穩定性,保障手術精度與安全性。科研場景下,該設備支持超短脈沖激光的時空特性,為新型激光器與光束整形技術突破提供數據支撐。光通信領域,BeamHere 可檢測光纖端面光斑質量,優化光信號耦合效率,確保通信系統性能穩定。全系產品覆蓋 200-2600nm 寬光譜范圍,支持千萬級功率測量,結合 M2 因子分析與 AI 算法,為客戶提供從光束診斷到工藝優化的全流程解決方案。半導體行業激光光束質量檢測方案。激光器光斑分析儀光斑測試

如何利用光斑分析儀和 M2 因子測量模塊評估激光質量?維度光電光斑分析儀有哪些型號

Dimension-Labs 正式發布符合 ISO11146 標準的 Beamhere 光斑分析解決方案。該系統通過硬件與軟件協同工作,可測量光斑能量分布、發散角及 M2 因子等參數。產品內置光束整形評估模塊,可對聚焦光斑形態、準直系統性能進行量化檢驗。用戶可根據需求擴展 M2 測試功能,實現光束傳播方向上的束腰位置定位與發散角動態分析。所有檢測數據均通過軟件進行智能處理,一鍵生成包含 20 + 參數的標準化測試報告。 產品優勢: 滿足測試需求的全系列產品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。維度光電光斑分析儀有哪些型號

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