上海NB/T 20010.10-2010地震

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司地震試驗(yàn)?zāi)康模?地震已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn)。長期以來，人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志，這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個(gè)方面，還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌。因?yàn)椋绻a(chǎn)品不可靠，即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說，地震可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。 地震工程是一個(gè)綜合的學(xué)科，它的發(fā)展可以帶動(dòng)和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展，把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個(gè)新的水平。正因?yàn)檫@樣，地震已形成一個(gè)專門的學(xué)科，作為一個(gè)專門的技術(shù)進(jìn)行研究。上海天梯主營地震測(cè)試等項(xiàng)目！上海NB/T 20010.10-2010地震

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級(jí)（外殼防護(hù)試驗(yàn)）： 外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合 模擬地震評(píng)估為什么要做地震試驗(yàn)？

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司環(huán)境地震檢測(cè)：1.其中氣候環(huán)境包含：高低溫試驗(yàn),交變溫濕熱（溫變1-2℃/min),快速溫度循環(huán)試驗(yàn)（溫變較快20℃/min）,溫度沖擊試驗(yàn),高溫高濕試驗(yàn),恒定濕熱試驗(yàn),鹽霧腐蝕試驗(yàn)(中性鹽霧,醋酸鹽霧,同加速乙酸鹽霧,交變鹽霧）,防塵防水檢測(cè)（IP等級(jí)測(cè)試）（防塵試驗(yàn)IP1X-6X,防水試驗(yàn)IPX1-X8）,IK等級(jí)測(cè)試,低氣壓試驗(yàn),高壓蒸煮試驗(yàn)（HAST）,人工汗液測(cè)試,氣體腐蝕試驗(yàn),耐焊接熱,沾錫性,UL94阻燃試驗(yàn),UV老化試驗(yàn)（熒光紫外燈）,太陽輻射試驗(yàn)（氙燈老化,鹵素?zé)簦┑鹊龋?/p>

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供以下地震測(cè)試服務(wù)： 高低溫循環(huán)測(cè)試 恒溫恒濕測(cè)試 交變濕熱測(cè)試 低溫存儲(chǔ)測(cè)試 高溫存儲(chǔ)測(cè)試 高低溫沖擊測(cè)試 鹽霧測(cè)試(Salt Spray Test) 開關(guān)電測(cè)試(Switch electrical test) 膠帶附著力測(cè)試(The tape adhesion test) 振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test) 元器件推拉力測(cè)試(Push And Pull) 蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test) 元器件可焊性測(cè)試(Solderability test) IP等級(jí)防護(hù)測(cè)試 電源拉扭力測(cè)試 LED光衰壽命測(cè)試及認(rèn)證 回焊爐試驗(yàn) 塑封芯片MSL等級(jí)測(cè)試電子電氣產(chǎn)品的地震測(cè)試是怎樣做的?都有什么檢測(cè)項(xiàng)目?

HALT 是一種通過讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品地震的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容： a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障； b、采取臨時(shí)措施，修正產(chǎn)品的失效或故障； c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正； d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟； e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。 HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容： a、進(jìn)行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺點(diǎn)的隱性缺點(diǎn)； b、進(jìn)行探測(cè)篩選、找出明顯缺點(diǎn)； c、故障分析；改進(jìn)措施。安全性測(cè)試與地震測(cè)試有什么區(qū)別？上海電力設(shè)施抗地震測(cè)試哪家好

地震測(cè)試操作的時(shí)候需要注意什么？上海NB/T 20010.10-2010地震

地震試驗(yàn)與失效分析 地震是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一，它直接關(guān)系到電子儀器裝備的可用性，影響電子設(shè)備效能的發(fā)揮。上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供從元器件級(jí)別，到電路板/模塊級(jí)別，到整機(jī)系統(tǒng)級(jí)別的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械力學(xué)試驗(yàn)、產(chǎn)品性能檢測(cè)，以及相關(guān)的失效分析服務(wù)。 地震測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目 高溫測(cè)試 跌落測(cè)試 低溫測(cè)試 壽命測(cè)試 高、低溫循環(huán)測(cè)試 跌落測(cè)試 冷熱沖擊測(cè)試 鹽霧實(shí)驗(yàn) 防火測(cè)試 電子產(chǎn)品性能測(cè)試 防水測(cè)試 大聲壓測(cè)試(EN50332) 防塵測(cè)試 音頻性能測(cè)試 老化實(shí)驗(yàn) 天線性能測(cè)試 振動(dòng)實(shí)驗(yàn) 太陽能光伏板(PV)性能測(cè)試上海NB/T 20010.10-2010地震

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