杭州BIX-8814 熒光測量系統廠家

來源: 發布時間:2025-03-23

BIX-8811反射率測量系統

【概述】反射率是物質/材料的基本光學特性,也是光譜測量的基本內容。對于不同種類的樣品,物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美平整表面上的反射是鏡面反射,在毛糙表面上的反射是漫反射,而光在大多數物體表面的反射則介于兩者之間。反射測量可以用于測量元件的反射率,也可以測量分析物體的反射的顏色和化學樣品中的成分信息。當我們對物體進行反射測量時,判斷物體表面主要是哪種反射類型是非常重要的。那些看上去非常光亮的樣品表面大多數是鏡面反射,可采用光纖進行取樣測量,而對于曲面樣品,采用積分球取樣測量更為合適。

【特點】~樣品放置方便,夾具要求不高。~操作簡便、重復性好、檢測快速。~方便讀取全譜的反射率值和曲線。~可通過積分球采樣測量材料顏色。

【應用】~物質/材料的鏡面反射測量。~物質/材料的漫反射測量。~物質/材料的顏色測量。 反射率測量系統在珠寶鑒定行業,輔助鑒別寶石真偽及品質。杭州BIX-8814 熒光測量系統廠家

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BIX-8805輻照度測量系統

【概述】由光譜儀、光纖、余弦矯正器、支架組成。其中光譜儀通過光纖與已知表面積的余弦校正器連接,整套系統通過NIST可溯源標準光源進行輻射定標,可以實現UVA、UVB、UVC等各波段的紫外線強度檢測,以及特定波段內輻照度、輻射通量、輻射強度等一系列參數的精確測量。裝置測試簡單,使用方便,可廣泛應用于紫外消毒燈,紫外熒光燈輻照強度測定、LED光輻射安全測量等研究領域。

【特點】~操作簡便、重復性好、檢測快速。~體積小、便于攜帶。~NIST可溯源認證的校準。~波長范圍包括200-450nm紫外波段,紫外靈敏度更高。~軟件兼容XP,Windows7,Windows8,Windows10。~USB2.0數據傳輸和供電,支持RS232通信。

【應用】~紫外標準檢測計量。~LED光輻射安全測量。~植物生長/PAR/植物光生物學。~紫外線固化系統的表征。~光穩定性測量。~光譜反射率/吸光度/透過率測量。~熒光測量。 杭州BIX-8814 熒光測量系統廠家電話拉曼測量系統為量子材料研究,探索材料電子結構,推動量子技術發展。

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Brolight生產的測量系統產品型號:【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析;微米級元器件檢測;材料應力溫升分析;化學反應溫度分析;化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量;物質/材料的漫反射測量;物質/材料的顏色測量。【BIX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量;玻璃等材料的透光性能測量;材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析。【BIX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量;醫藥領域的定量分析測量;礦物材料等的熒光光譜特性測量。【BIX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測。

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博源光電測量系統產品包括:【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析;微米級元器件檢測;材料應力溫升分析;化學反應溫度分析;化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量;物質/材料的漫反射測量;物質/材料的顏色測量。【BIX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量;玻璃等材料的透光性能測量;材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析。【BIX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量;醫藥領域的定量分析測量;礦物材料等的熒光光譜特性測量。【BIX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測。工業自動化生產中,LD/LED 光源測量系統實時監測光源狀態,提高生產效率。杭州BIX-8814 熒光測量系統廠家電話

透過率測量系統對光學儀器鏡頭鍍膜工藝,精確控制膜層透過率。杭州BIX-8814 熒光測量系統廠家

LD/LED光源測量系統

【概述】LD和LED是較常見的半導體光源,在工業和科研領域都有著廣泛的應用,其光譜特征和功率數值是重要的性能指標。BIX-8801系統提供了光源驅動、器件安裝、光采樣和傳導、光譜和光功率測量等所有涉及的組件。系統包含了以電流驅動控制、溫度驅動控制和器件安裝組件為關鍵的解決方案,電流驅動控制器和溫度驅動控制都可以提供多種規格,為LD和LED器件的研究提供相匹配的設備支撐。

【特點】~選配件豐富,可按需配置。~模塊化設計,集成靈活方便。~平臺化軟件,支持所有設備。~支持多維數據同步分析。

【應用】~半導體發光器件研究。~光電材料特性研究。~激光系統驅動控制。~控溫設備驅動。 杭州BIX-8814 熒光測量系統廠家

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