基于掃描電鏡的原位加載裝置的制作方法:利用掃描電鏡進行力學性能表征,需要發展相應的加載設備。然而,現有技術中的用于加載試件的加載機構均是微進給加載機構,即靠近和加載試件過程其進給速度相同,且速度較低,這勢必延長了加載試驗的操作時間(合理的加載機構是在靠近試件的過程中進給速度快、為試件加載時進給速度慢)。一種能夠解決上述一個或幾個問題的基于掃描電鏡的原位加載裝置。為解決上述技術問題,本**技術采用的技術方案是:一種基于掃描電鏡的原位加載裝置,用于加載試件,包括:試驗臺;初個夾持塊、第二夾持塊。uTS原位加載系統可以滿足納米級精度測量需求。上海CT原位加載設備銷售商
掃描電鏡原位加載設備的相關應用:1、直接觀察大試樣的原始表面:它能夠直接觀察直徑100mm,高50mm,或更大尺寸的試樣,對試樣的形狀沒有任何限制,粗糙表面也能觀察,這便免除了制備樣品的麻煩,而且能真實觀察試樣本身物質成分不同的襯度(背散射電子象)。2、觀察厚試樣:其在觀察厚試樣時,能得到高的分辨率和很真實的形貌。3、觀察試樣的各個區域的細節:試樣在樣品室中可動的范圍非常大,可以在三度空間內有6個自由度運動(即三度空間平移、三度空間旋轉),這對觀察不規則形狀試樣的各個區域帶來極大的方便。山東SEM原位加載設備總代理設計了可用于基于SEM微觀形貌分析、EBSD晶粒取向分析的原位加載裝置。
掃描電鏡原位加載設備的相關知識點:1.光學顯微鏡以可見光為介質,電子顯微鏡以電子束為介質,由于電子束波長遠較可見光小,故電子顯微鏡分辨率遠比光學顯微鏡高。光學顯微鏡放大倍率較高只有約1500倍,掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。2.根據deBroglie波動理論,電子的波長單與加速電壓有關。3.掃描式顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深(depthoffield),約為光學顯微鏡的300倍,使得掃描式顯微鏡比光學顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的樣品。
uTS原位加載系統:光學顯微鏡和DIC數字圖像相關技術的結合,可以滿足納米級精度測量需求。光學顯微鏡受可見光波長限制分辨率只能達到250nm,由于DIC技術具有強大圖像處理能力可以準確實現0.1像素位移測量,因此uTS顯微測試系統的分辨率可達到25nm。在光學顯微鏡下材料的原位加載實驗中,較大挑戰在于加載過程產生的離面位移,高分辨率位移場需要高放大倍數顯微鏡,意味著景深很小,幾微米的離面位移就會造成顯微鏡失焦。uTS顯微測試系統針對離面位移有特殊的設計,有效地控制了離面位移對實驗結果影響。原位加載掃描電鏡技術與運用,材料的力學性能是其諸多性能中的關鍵性能之一。
原位加載掃描電鏡的擴展技術:由于光學金相顯微鏡觀察奧氏體不銹鋼的獨特功能,將其與原位加載裝置結合,可對金屬材料的形變機理進行深人研究。利用帶有原位拉伸臺的光學金相顯微鏡,對國產靜態鑄造、國產離心鑄造和法國產離心鑄造的奧氏體不銹鋼的原始態,及熱老化300h3000h和10000h后的微型試樣的塑性變形、裂紋萌生與擴展的動態過程進行了原位觀察,在考慮到鑄造方式和老化時間對材料形變和斷裂行為的影響下,查明不同鑄造方法生產的Z3CN20-09M鑄造奧氏體不銹鋼的形變和斷裂機理,以期從微觀角度對3種鋼的性能做出評價。原位加載裝置設計過程包含了機械設計部分。湖北CT原位加載設備代理商
原位加載系統掃描可以提供更準確、可靠的信息,便于提高產品質量和客戶使用的安全性。上海CT原位加載設備銷售商
掃描電子顯微鏡的應用:1、掃描電鏡觀察納米材料:所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內,掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率?,F已大范圍的用于觀察納米材料。2、掃描電鏡觀察材料斷口:掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次,高景深的角度呈現材料斷裂的本質,在教學、科研和生產中,有不可替代的作用,在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析已經工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。3、掃描電鏡觀察厚試樣:掃描電鏡在觀察厚試樣時,能得到高的分辨率和很真實的形貌。上海CT原位加載設備銷售商
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