內(nèi)蒙古PCI-E測(cè)試修理

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?！latformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測(cè)試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對(duì)于PCIe4.0來(lái)說(shuō)，針對(duì)之前發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題以及新增的特性，替換或增加了以下測(cè)試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測(cè)試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測(cè)試)?！aneMargining(鏈路裕量測(cè)試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對(duì)電氣特性測(cè)試，又有專(zhuān)門(mén)的物理層測(cè)試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試方法。表4.2是針對(duì)PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測(cè)試項(xiàng)目,其中灰色背景的測(cè)試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。pcie 有幾種類(lèi)型,哪個(gè)速度快?內(nèi)蒙古PCI-E測(cè)試修理

為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn)，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整，以精確補(bǔ)償通道損耗的  影響。同時(shí)，為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對(duì)于發(fā)射端來(lái)說(shuō)，PCle5.0相對(duì)于PCIe4.0和PCIe3.0來(lái)說(shuō)變化不大， 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。HDMI測(cè)試PCI-E測(cè)試檢修PCI-E3.0的接收端測(cè)試中的Repeater起作用？

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測(cè)試方法與PCIe4.0也是類(lèi)似，都需要通過(guò)CLB或者CBB的測(cè)試夾具把被測(cè)信號(hào)引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，并通過(guò)誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測(cè)試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測(cè)試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量及LinkEQ測(cè)試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號(hào)邊沿更陡。對(duì)于PCIe5.0芯片的信號(hào)測(cè)試，協(xié)會(huì)建議的測(cè)試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對(duì)于主板和插卡來(lái)說(shuō)，由于測(cè)試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號(hào)經(jīng)過(guò)PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些，所以信號(hào)質(zhì)量測(cè)試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測(cè)試中，由于需要用示波器對(duì)誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號(hào)做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動(dòng)設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析，測(cè)試效率 比較低，而且對(duì)于不熟練的測(cè)試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測(cè)試結(jié)果的不一致，測(cè)試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測(cè)試的效率和測(cè)試項(xiàng)目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試軟件。PCI-E4.0的標(biāo)準(zhǔn)什么時(shí)候推出？有什么變化？

如前所述，在PCle4.0的主板和插卡測(cè)試中，PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過(guò)測(cè) 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測(cè)試通道，而對(duì)端接收芯片封裝對(duì)信號(hào)的影 響是通過(guò)軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測(cè)試過(guò)程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測(cè)試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測(cè)波形上。

PCIe4.0信號(hào)質(zhì)量分析可以采用兩種方法： 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動(dòng)分析，另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。 PCI-E 3.0及信號(hào)完整性測(cè)試方法;甘肅PCI-E測(cè)試一致性測(cè)試

為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？?jī)?nèi)蒙古PCI-E測(cè)試修理

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來(lái)越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡(jiǎn)單的去加重(De-emphasis)技術(shù)，即信號(hào)的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號(hào)時(shí)對(duì)跳變比特(信號(hào)中的高頻成分)加大幅度發(fā)送，這樣可以部分補(bǔ)償傳輸線路對(duì)高 頻成分的衰減，從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對(duì)于3代和4代技術(shù)來(lái)說(shuō)，由于信號(hào)速率更高，需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù)，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外，在跳變比特的前 1個(gè)比特也要增大幅度發(fā)送，這個(gè)增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應(yīng)對(duì)復(fù)雜的鏈路環(huán)境，內(nèi)蒙古PCI-E測(cè)試修理