肇慶半導體AOI檢測設備技術參數

AOI設備的原理1.焊錫表面具有光的平面鏡反射性質，因此照射在焊錫表面的光，遵循入射角=反映射角方向進行反射。2.光源設計通過“紅色、綠色、藍色”不同角度的光源照射，反映被造物體的曲面的變化情況。從而達到檢測元件焊接弧度的目的。3.不同的曲面弧度上，顏色反映了弧度的變化特性?！凹t光”“綠光”“藍光”的亮度強弱比例，是保證這一檢測原理的關鍵。①紅色：上錫角度相對較低時，紅光反射回像機。（1°-25°）②綠色：上錫角度相對高一些時綠光反射回像機。（25°-45°）③藍色：上錫角度較高時，藍光反射回像機。（45°以上）AOI檢測設備的優點具體有哪些呢？肇慶半導體AOI檢測設備技術參數

爐前與爐后AOI爐前AOI主要是放置在多功能貼片機前，因為現在很多通訊錄產品都會加屏蔽罩，那么只能在爐前AOI先檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質，再由多功能機貼屏蔽罩，如果是焊接后再檢查，那么爐后AOI就無法檢測屏蔽罩下的元件焊接品質。大部分貼片加工廠都是爐后AOI，主要檢查焊接的品質，刷選出焊接不良，以免組裝包裝出貨后出問題，那么返工會更費時費力。AOI檢測步驟1.給AOI進行編程，將相關PCB和元件數據學習。2.學習預測，將多塊焊接板利用光學進行檢測和算法分析，找出待測物的變化規律，建立標準的OK板模型3.學習完成，進行在線調試，在批量生產前進行小批次試產，將試產的PCBA與OK板進行比對，合格則再人工目檢4.對試產PCBA進行功能測試，如都正常，則開放批量生產。深圳國內AOI檢測設備廠家價格SMT加工中AOI設備的用途——自動化光學檢測。

AOI工作原理自動光學檢測的光源分為兩類：可見光檢測和X光檢測AOI檢測分為兩部分：光學部分和圖像處理部分，通過光學部分獲得需要檢測的圖像；通過圖像處理部分來分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強的軟件支持，因為何種缺陷需要不同的計算方法用電腦進行計算和判斷。燈光變化的智能控制人認識物體是通過光線反射回來的量進行判斷，反射量多為量，反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過人工光源LED燈光代替自然光，光學透鏡和CCD代替人眼，把從光源反射回來的量與已經編好程的標準進行比較、分析和判斷。對AOI來說，燈光是認識影響的關鍵因素，但光源受環境溫度、AOI設備內部溫度上升等因素影響，不能維持不變的光源，因此需要通過“自動跟蹤”燈光“透過率“對燈光變化進行智能控制。焊點檢測原理AOI是X、Y平面（2D）檢測，而焊點是立體的，因此需要3D檢測焊點高度（Z）。3D檢測的方法有當下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點和Chip元件時，元件部分燈光反射到camera，而焊點部分光線反射出去。與此相反，用底部（水平）燈光照射時，元件部分燈光反射出去，焊點部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點部分的影響。

AOI的發展需求集成電路（IC）當然是現今人類工業制造出來結構較為精細的人造物之一，而除了以IC為主的半導體制造業，AOI亦在其他領域有很重要的檢測需求。具體有以下幾種示例：①微型元件或結構的形貌以及關鍵尺寸量測，典型應用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測②精密零件與制程的精密加工與檢測，典型應用就是針對工具機、航空航天器等高精度機械零件進行相關的粗糙度、表面形狀等的量測，具有高精度、量測條件多變等特點③生物醫學檢測應用，典型應用就是各式光學顯微鏡，結合相關程序編程、AI即可輔助判斷相關的生物、醫學信息判斷。④光學鏡頭或其他光學元件的像差檢測1、按結構分類：簡易型手動離線AOI設備，離線AOI設備，在線AOI設備等；

SMT中應用的錫膏檢測技術的形式多種多樣，但其中AOI的基本原理是相同的，就是用光學原理獲取被測物品圖象，一般通過攝像機獲得檢測物的照明圖象然后數字化，再以某種方法進行比較、分析、檢驗和判斷，相當于將人工目視檢測轉變為自動化、智能化。AOI分析和判斷的算法可分為兩種，一種是設計規則檢驗（矢量分析），一種是圖形識別檢驗。矢量分析是按照固定的規則檢測圖形。一般是所有連線以焊點為端點，所有引線寬度、間隔不小于某一規定值等規則檢測PCB電路圖形。AOI中文全稱是自動光學檢測，是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。云浮精密AOI檢測設備原理

AOI為自動光學檢測系統。肇慶半導體AOI檢測設備技術參數

AOI檢測流程首先，給AOI進行編程，將相關PCB和元件數據學習。然后學習預測，將多塊焊接板利用光學進行檢測和算法分析，找出待測物的變化規律，建立標準的OK板模型，之后學習完成，進行在線調試，在批量生產前先進行小批次試產，將試產的PCBA與OK板進行比對，合格后再人工目檢，之后對試產PCBA進行功能測試，如果都正常，就可以開放批量生產了。那么為何還需要人工目檢呢，這是因為雖然AOI在線檢測大幅提高產線的產能，可替代大量人工目檢，節省了人工和提高直通率以及降低誤判率，但是有些元件比較高或引腳比較高，會出現陰影或者局部暗部，由于AOI是光學檢測，一般比較難以照射到這些，因此可能會出現死角，所以需要在AOI后設置一個目檢崗位，盡量減少不良產品。只是放置了AOI，后面人工目檢可設置1-2個工作卡位即可。肇慶半導體AOI檢測設備技術參數

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