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即可通過互聯網進行遠程控制，從目標文件格式中提取源碼和符號，而且處理器可運行各種控制操作。二、邏輯分析儀的分類目前市場上邏輯分析儀有兩類，一類是式邏輯分析儀，主要供應商有安捷倫和泰克；另一類是價格相對低廉的基于PC的虛擬邏輯分析儀（VI），主要供應商為美國國家儀器公司（NationalInstruments，NI），主要產品為圖形化測試測量編程軟件LabVIEW。傳統上，在PC上運行的LabVIEW軟件被稱為虛擬儀器，但隨著LabVIEWRT的推出，這些VI可以在多種設備上運行，如便攜式儀器、工業PC或基于Web的儀器等。三、邏輯分析儀的主要技術指標1、邏輯分析儀的通道數在需要邏輯分析儀的地方，要對一個系統進行地分析，就應當把所有應當觀測的信號全部引入邏輯分析儀當中，這樣邏輯分析儀的通道數至少應當是：被測系統的字長（數據總線數）＋被測系統的控制總線數＋時鐘線數。這樣對于一個8位機系統，就至少需要34個通道?，F在幾個廠家的主流產品的通道數也高達340通道，例Tektronix等，市面上主流的產品是34通道的邏輯分析儀，用它來分析常見的8位系統，像北京海洋新推出的OLA系列邏輯分析儀就是34通道的。2、定時采樣速率在定時采樣分析時，要有足夠的定時分辨率。協議分析儀就找歐奧電子。長沙SD分析儀費用

歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。通過在整個信號活動信封內執行全時掃描，眼定位可以顯示在時間和電壓的小窗口中檢測到的轉變。這些掃描稱為眼圖掃描（eyescan）。像示波器一樣，眼圖掃描用于顯示測量數據。每個窗口中的轉變數量都會突出顯示。這可以使概覽眼型圖案，并確定是否需要使用示波器來進一步詳細地查看信號。圖19眼圖掃描可以運行導致自動設置閾電壓和采樣位置的eyescan，或運行只導致自動設置采樣位置的eyescan。眼定位測量收集數據所基于的通道數量會影響測量時間。當一個模塊中存在多個邏輯分析儀卡時將出現異常；在這種情況下，測量將同時并行運行。支持差分信號的邏輯分析儀中的眼圖掃描EyeScan：支持差分信號的邏輯分析儀（如16962A邏輯分析儀模塊）針對輸入使用真值差分接收器：可編程參考電壓將計入負輸入。這是分析儀采用單端探頭時的閾電壓。對于差分探測的相關操作，通常將參考電壓編寫為0V：隨后將接收器的輸出與0V進行比較，從差分輸入信號產生內部邏輯信號。請注意。汕頭I3C分析儀那家好DigRF v4協議分析儀/訓練器找歐奧！

才能符合此表達式。換句話說，在ADDR等于1000的同時DATA等于2000。因此，如果要在同時發生兩個事件時觸發，則應使用布爾邏輯表達式。常見錯誤是應使用布爾邏輯表達式時嘗試使用兩個序列步驟，或者應使用兩個序列步驟時嘗試使用布爾邏輯表達式。當多個事件同時發生時使用布爾邏輯表達式，而在一個事件接著一個事件發生時使用多個序列步驟。分支：分支類似于C編程語言中的Switch語句和Basic中的SelectCase語句。分支可提供測試多個sADDR”。多數邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式，因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR<=>標志：標志是用于從一個模塊向另一個模塊發送信號的布爾變量。當某種情況在某一模塊中發生而稍后被另一模塊測試時可以設置標志。在下面的示例中，標志1用于跟蹤在模塊1的觸發序列中發生的情況，如，如果想在ADDR=1000第5次出現時觸發，可以將觸發設置為：IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計數器類似于整數變量。全局計數器比發生計數器更靈活，因為它們可用于為復雜事件（例如一個時鐘沿后跟另一時鐘沿的事件）計數?？梢栽黾?、測試和重新設置全局計數器。默認情況下，全局計數器以零開頭并且不需要重新設置。

定時分析與狀態分析的主要區別是：定時分析由內部時鐘控制采樣，采樣與被測系統是異步的；狀態分析由被測系統時鐘控制采樣，采樣與被測系統是同步的。用定時分析查看事件“什么時候”發生，用狀態分析檢查發生了“什么”事件。定時分析通常用波形顯示數據，狀態分析通常用列表顯示數據。六、小結邏輯分析儀主要用來測試以微處理器為的數字系統，在硬件電路、嵌入式系統和監控軟件的研制和調試過程中，都是一個必備的工具。邏輯分析儀具有豐富的觸發條件，不管被測系統多么復雜，邏輯分析儀都能準確地找到那些隱蔽的、偶然的特殊時刻，然后把觸發條件發生前后，各信號的時序圖和數據流顯示出來。問題也就看清楚了，不需要再絞盡腦汁的推理和猜測了。QSPI協議分析儀/訓練器找歐奧！

作為工程師手頭常備的開發工具，目前有許多入門級的邏輯分析儀設計，整體功能雖然不能和專業儀器相比，但是用較低的成本來實現特定的功能，也是非常成功的設計。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級設計?；陔娔X并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統逐步不再配置并口，這類設計已經成為明日黃花，還具有原理學習的價值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機為基礎的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機設計了自己的作品。但這類單片機邏輯分析儀的共同弱點就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎的入門級邏輯分析儀現在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產品主要采用一個USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號觸發和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個數據記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數量”地采樣，因為所有的數據都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個通道，更多的通道數量會成比例地降低高采樣速度。這類產品構造簡單，方便易用，價格便宜，是調試單片機開發工作的好工具。它的缺點主要是采樣速度只有24MHz、8個通道。I2C/SPI邏輯分析儀/訓練器找歐奧！南通協議分析儀那家好

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還要對信號進行放，因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型：直流負載和交流負載。直流負載：探頭看起來象一個對地的直流負載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定，這個電阻阻值越，直流負載越小，阻值越小，直流負載越。交流負載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面：探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面：探頭電容和電感；探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓撲結構；探頭和目標間連線的長度。對于交流負載，我們需要考慮：探測點在傳輸線的位置，總線的拓撲結構和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。長沙SD分析儀費用